X熒光光譜儀是一款全新開發(fā)研制的集RoHS指令/鹵素指令/八大重金屬指令一體的光譜儀。集準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用分析儀器行業(yè)先進的極速探測器技術(shù)（SDD）可將測試時間降低到1秒。可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設計自動樣品平臺讓準確檢測得到保證。

　　該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，提高了效率；采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性；利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術(shù)使分類更準確，有效地克服基效應對測量帶來的影響；X熒光光譜儀采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。

　　X熒光光譜儀的優(yōu)點：

　　1.分析速度快。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　2.X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。

　　3.非破壞分析。在X熒光光譜儀測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

　　4.X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。

　　5.分析精密度高。

　　6.制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。X熒光光譜儀適用于工廠來料及制程控制中的有害物質(zhì)檢測，鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cr)、鉻(Cd)、溴(Br)、氯(Cl)控制的利器。無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質(zhì)進行定性定量分析。